Bahay >
Kalidad na Garantiya
Kalidad na Garantiya
Bahagi ng Pagsubok Ng IGBT-Power-Modules Isama
- HD Visual Inspection
Ang pagsubok sa Mataas na Kahulugan kabilang ang Silk screen, coding, High Definition ay nakakakita ng mga solder ball, na maaaring makita kung may oxidized at orihinal na mga bahagi.
- Pagsubok sa Pangwakas na Pag-andar
Sa panahon ng isang pansubok na pagsubok ang antas ng boltahe ng mga signal ng output mula sa DUT ay inihambing sa mga antas ng sanggunian ng VOL at VOH ng mga gumaganang kumpare. Ang isang output strob ay nakatalaga ng isang halaga ng tiyempo para sa bawat output pin upang makontrol ang eksaktong punto sa loob ng test cycle para sa pag-sample ng output voltage.
- Buksan / Maikling Pagsubok
Ang pagsubok sa pagbubukas / shorts (tinatawag ding pagpapatuloy o pagsubok sa pakikipag-ugnay) ay nagpapatunay na, sa panahon ng isang pagsubok sa aparato, ang contact na elektrikal ay ginawa sa lahat ng mga signal pin sa DUT at walang signal pin na naikli sa ibang signal pin o power / ground.
- Pagsubok ng Pag-andar ng Programming
Upang masulit ang nabasa, burahin at pagpapaandar ng programa pati na rin ang blangkong pagsuri para sa mga chips kabilang ang digital memory, Microcontrollers, MCU at iba pa
- X-RAY At ROHS Pagsubok
Maaaring kumpirmahin ng X-RAY kung ang wafer at wire bond at die bond ay mabuti o hindi; ang ROHS test ay sa pamamagitan ng proteksyon sa kapaligiran ng pin ng produkto at lead na nilalaman ng patong na panghinang ng kagamitan na photovoltaic
- Pagsusuri sa Chemistry
Ang na-verify na produkto ay orihinal sa pamamagitan ng pagtatasa ng kemikal
Mga Eksena sa Lab Test
