အရည်အသွေးအာမခံ
IGBT-Power-Modules များကအပိုင်းစမ်းသပ်မှုပါဝင်သည်
- HD ကို Visual စစ်ဆေးရေး
အဆင့်မြင့်ပုံပန်းသဏ္ဌာန်စမ်းသပ်ခြင်း Silk screen၊ coding, High Definition သည် solder ball များကို detect လုပ်သည်။ ၎င်းသည် Oxidized နှင့်မူရင်းအစိတ်အပိုင်းများဟုတ်မဟုတ်ကိုစစ်ဆေးနိုင်သည်။
- နောက်ဆုံး function ကိုစမ်းသပ်ခြင်း
အလုပ်လုပ်သောစမ်းသပ်မှုတစ်ခုအရ DUT မှထွက်ရှိသောအချက်ပြမှု၏ voltage voltage ကိုအလုပ်လုပ်သောနှိုင်းယှဉ်သူများက VOL နှင့် VOH ရည်ညွှန်းအဆင့်နှင့်နှိုင်းယှဉ်သည်။ output strobe သည် output pin ၏တစ်ခုစီအတွက် output voltage အတွက်နမူနာအတွက်စမ်းသပ်သည့်သံသရာအတွင်းရှိအချက်အတိအကျကိုထိန်းချုပ်ရန်အတွက်အချိန်သတ်မှတ်ချက်တစ်ခုဖြစ်သည်။
- Open / Short Test
အဆိုပါဖွင့်လှစ်ခြင်း / ဘောင်းဘီတိုများစစ်ဆေးခြင်း (ဆက်လက်ခြင်းသို့မဟုတ်အဆက်အသွယ်စစ်ဆေးခြင်းဟုလည်းခေါ်သည်) သည်စက်ကိရိယာစမ်းသပ်မှုတစ်ခုအတွင်း DUT ရှိ signal pin များအားလုံးသို့လျှပ်စစ်အဆက်အသွယ်ပြုသည်၊ signal pin ကိုအခြား signal pin သို့မဟုတ် power / ground သို့မတို့ကြောင်းအတည်ပြုသည်။
- function ကိုစမ်းသပ်ခြင်း Programming
စာဖတ်ခြင်း၊ ဖျက်ခြင်းနှင့်ပရိုဂရမ်၏လုပ်ဆောင်မှုအပြင်ဒစ်ဂျစ်တယ်မှတ်ဉာဏ်၊ မိုက်ခရိုကွန်ဒို၊ MCU စသည့်ချစ်ပ်များကိုစစ်ဆေးရန်
- X-Ray နှင့် RoHS စမ်းသပ်မှု
X-RAY သည် wafer နှင့် wire bond နှင့် die bond သည်ဟုတ်သည်မဟုတ်ကိုအတည်ပြုနိုင်သည်။ ROHS စမ်းသပ်မှုသည်ထုတ်ကုန် pin ၏ပတ်ဝန်းကျင်ဆိုင်ရာကာကွယ်မှုနှင့် photovoltaic ပစ္စည်းကိရိယာများအားဖြင့်ဂဟေဆက်သောအပေါ်ယံလွှာ၏ခဲပါဝင်မှုများမှတဆင့်ဖြစ်သည်
- ဓာတုဗေဒခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်း
အတည်ပြုပြီးထုတ်ကုန်ဓာတုခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းအားဖြင့်မူရင်းဖြစ်ပါတယ်
စမ်းသပ်ဓာတ်ခွဲခန်းမြင်ကွင်းများ
