Wielt Äert Land oder Regioun.

EnglishFrançaispolskiSlovenija한국의DeutschSvenskaSlovenskáMagyarországItaliaहिंदीрусскийTiếng ViệtSuomiespañolKongeriketPortuguêsภาษาไทยБългарски езикromânescČeštinaGaeilgeעִבְרִיתالعربيةPilipinoDanskMelayuIndonesiaHrvatskaفارسیNederland繁体中文Türk diliΕλλάδαRepublika e ShqipërisëአማርኛAzərbaycanEesti VabariikEuskera‎БеларусьíslenskaBosnaAfrikaansIsiXhosaisiZuluCambodiaსაქართველოҚазақшаAyitiHausaКыргыз тилиGalegoCatalàCorsaKurdîLatviešuພາສາລາວlietuviųLëtzebuergeschmalaɡasʲМакедонскиMaoriМонголулсবাংলা ভাষারမြန်မာनेपालीپښتوChicheŵaCрпскиSesothoසිංහලKiswahiliТоҷикӣاردوУкраїнаO'zbekગુજરાતીಕನ್ನಡkannaḍaதமிழ் மொழி

Qualitéit Garantie

Deel Test Vun IGBTs-Moduler Inklusioun

HD Visual Inspection
Héich Definitioun Ausgesinn Tester abegraff Seidewiever, Kodéierung, Héich Definitioun Lötkugelen detektéieren, déi ob oxidéiert an originell Deeler detektéieren.
Finale Funktioun Testen
Wärend engem funktionellen Test gëtt de Spannungsniveau vun den Ausgabesignaler aus der DUT mat de VOL- a VOH Referenzniveaue vun de funktionelle Vergläicher verglach. En Output-Strobe kritt en Timingswäert fir all Output-Pin zougewisen fir de genauen Punkt am Testzyklus ze kontrolléieren fir d'Ausgangsspannung ze probéieren.
Open / Short Test
Den Open / Shorts Test (och nach Kontinuitéit oder Kontakttest genannt) verifizéiert datt, während engem Apparatest, elektresche Kontakt zu all Signalstifter op der DUT gemaach gëtt an datt kee Signalstif zu engem anere Signalstifter oder Stroum / Buedem verkierzt gëtt.
Programméiere Funktioun Testen
Fir d'Lies-, Läschen- a Programmfunktioun ze iwwerpréiwen, souwéi eidel Kontroll fir Chips inklusiv Digital Memory, Microcontrollers, MCU asw.
X-RAY An ROHS Test
X-RAY kann bestätegen ob d'Wafer an d'Draadverbindung an d'Stierfbond gutt sinn oder net; den ROHS Test ass iwwer den Ëmweltschutz vum Produktstift a Bläiinhalt vun der Lötbeschichtung vun der Fotovoltaikausrüstung
Chimie Analyse
Verifizéiert Produkt ass originell duerch chemesch Analyse

Test Labo Szenen